Literaturverzeichnis - Springer978-3-642-57402...trag zum OECD-Workshop "Innovation, Patents and...

Literaturverzeichnis

Archibugi, D. (2000): The Globalisation ofTechnology and the European Innovation System. Paper prepared as part of the project "Innovation Policy in aKnowledge-Based Economy", commissioned by the European Commission.Revised Version - 15 May 2000, Mimeo.

Archibugi D. et al. (Hrsg.) (1999): Innovation Policy in aGlobai Economy. Cambridge: Cambridge University Press.

Archibugi, D.; Michie, 1. (1995): The Globalisation of Technology: A New Taxonomy. In: Cambridge Journal ofEconomics 19; S.121-140.

Archibugi, D.; Iammarino S. (1999): The Policy Implications of the Globalisationof Innovation. In: Archibugi, D. et al. (Hrsg.), Innovation Policy in aGlobaiEconomy. Cambridge: Cambridge University Press; S. 242-271.

Arvantis, S.; Hollenstein, H. (2001): Technologiestandort Schweiz im Zuge derGlobalisierung: Eine explorative Analyse der F&E-Aktivitäten schweizerischer Industrieunternehmen im Ausland. Schweizerische Zeitschrift fürVolkswirtschaft und Statistik 137 (2); S. 129-148.

Barre, R. (1994): Interferences Between International Innovation Networks WithinMNF's and National Innovation Systems: "Residual" or New Paradigms. Beitrag zum OECD-Workshop "Innovation, Patents and Technological Strategies". Paris, 8.-9. Dezember 1994.

Beise, M. (2001): Lead Markets. Country-Specific Success Factors of the GlobalDiffusion ofInnovations. Heidelberg, New York: Physica.

Beise, M.; Belitz H. (1998): Trends in the Internationalisation of R&G - The German Perspective. In: Vierteljahreshefte zur Wirtschaftsforschung des DIW 67(2); S. 67-85.

Belitz, H. (2002): Deutschland als Forschungsstandort multinationaler Unternehmen. DIW-Wochenbericht 16/02.

Belsley, D.; Kuh, E.; Welsch, R.(1980): Regression Diagnostics. New York: JohnWiley & Sons.

BMBF (Bundesministerium für Bildung und Forschung) (Hrsg.) (1998): Zur technologischen Leistungsfähigkeit Deutschlands. Aktualisierung und Erweiterung 1997; Bonn.

184

BMBF (Bundesministerium für Bildung W1d Forschung) (Hrsg.) (2001): Zur technologischen Leistungsfahigkeit Deutschlands. Zusammenfassender Endbericht 2000; Bonn.

BouteIlier, R. et al. (Hrsg.) (1999): Managing Global Innovation. Uncovering theSecrets ofFuture Competitiveness. Berlin et al.: Springer.

Brockhoff, K. (1998): Internationalization of Research and Development. Heidelberg u. a.: Springer.

CantweIl, J. (1995): The Globalisation of Technology: What Remains of the Product Life Cycle Model. In: Cambridge Journal of Economics 19 (1); S. 155174.

CantweIl, 1.; Harding, R. (1998): The Internationalisation of German Companies'R&D. In: National Institute Economic Review 163; S. 99-124.

CantweIl, J.; Iammarino, S. (1998): MNCs, Technological Innovation and RegionalSystems in the EU: Some Evidence in the Italian Case. International Journalofthe Economics ofBusiness 5(3); S. 383-408.

CantweIl, 1.; Kosmopoulou, E. (2001): What Determines the Internationalisation ofCorporate Technology. In: Forsgren, M. et al. (Hrsg.), Critical Perspectives onInternationalisation. Mimeo.

Cantwell, 1.; Noonan, C. (2001): The Regional Distribution of Technological Development. In: Feldmann, M.; Massard, N. (Hrsg.), Institutions and Geography in the Geography ofInnovations. Kluver; S. 199-230.

CantweIl, J; Janne, O. (1999): Technological Globalisation and Innovation Centres:the Role of Corporate Technolgoical Leadership and Loactional Hierarchy.In: Research Policy 28; S. 119-144.

Döhrn, R. (2002): Bestimmungsgründe und Auswirkungen von Direktinvestitionender deutschen Chemischen Industrie. RWI-Papiere 79. Essen: RWI.

Döhrn, R.; Radmacher-Nottelmann, N. (2000): A Database on the Globalization ofGerman Manufactoring Companies: Conception and Some Results. RWIPapiere 69. Essen: RWI.

Dunning, J. (1977): Trade, Location ofEconomic Activity and the MNE: A Searchfor an Eclectic Approach: In: Ohlin, B.; Hasseiborn, P.; Wijkrnan, P. (Hrsg.),The International Allocation of Economic Activity. London; S. 395-431.

185

Dunning, J. H.; Wymbs, C. (1999): The Geographical Sourcing of TechnologyBased Assets by Multinational Enterprises. In: Archibugi D. et al. (Hrsg.), Innovation Policy in aGlobaI Economy. Cambridge: Cambridge UniversityPress; S. 185-224.

Dunning, J.; Narula, R. (1995): The R&D Activities ofForeign Firms in the UnitedStates. International Studies of Management & Organization 25 (1-2); S. 3973.

Edler, J. (2001): Wissensmanagement in Unternehmen. Pilotstudie im Auftrag desStifterverbands für die Deutsche Wissenschaft und des Bundesministeriumsfür Bildung und Forschung. Karlsruhe: Unveröffentlichtes Manuskript.

Edler, l; Meyer-Krahmer, F.; Reger, G. (2000): Global Survey ofthe Strategic Management ofTechnology. Summarizing Report. Karlsruhe: UnveröffentlichtesManuskript.

Edler, l; Meyer-Krahmer, F.; Reger, G. (2001): Managing Technology in the TopR&D Spending Companies Worldwide - Results of aGlobaI Survey. In: Special Issue of the Engineering Management Journal "Managing High TechnologyResearch Organizations" 13, No I, March 2001; S. 5-11.

Florida, R. (1997): The Globalization of R&D: Results of a Survey of Foreignaffiliated R&D Laboratories in the USA. In: Research Policy 26 (1997);S.85-103.

Gassmann, 0.; von Zedtwitz, M. (1996b): Internationales Innovationsmanagement - ein Referenzrahmen. München: Vahlen.

Gassmann, 0.; von Zedtwitz, M. (1996a): Internationales Innovationsmanagement ein Referenzrahmen. In: dies. (Hrsg.), Internationales Innovationsmanagement; München: Vahlen; S. 3-16.

Gassmann, 0.; von Zedtwitz, M. (1999): New Concepts and Trends in InternationalR&D Organisation. In: Research Policy 28 (1999); S. 231-250.

Gerybadze, A. (1999): Die Auswirkungen der Internationalisierung und Globalisierung auf das Management von Forschung dun Entwicklung. Vortrag im Rahmen der Internationalen Konferenz "R&D Management 2000 - Challengesand Concepts". Universität Stuttgart, 23.07.1999.

Gerybadze, A.; Reger, G. (1999): Globalization of R&D: Recent Changes in theManagement of Innovation in Transnational Corporation. In: Research Policy28; S. 251-271.

186

Gerybadze, A.; Meyer-Krahmer, F.; Reger, G. (1997) (Hrsg.): Globales Management von Forschung und Innovation. Stuttgart: Schäffer-Poeschel Verlag.

Gerybadze, A.; Meyer-Krahmer, F.; Schlenker, F. (1997): Strategietypen und FuEStandortentscheidungen in der internationalen Wertschöpfungskette. In: Gerybadze, A.; Meyer-Krahmer, F.; Reger, G. (Hrsg.), Globales Managementvon Forschung und Innovation. Stuttgart: Schäffer-Poeschel Verlag; S. 174195.

Grandstrand, O. (1999): Internationalisation ofCoporate R&D: A Study of Japaneseand Swedish Corporations: In: Research Policy 28; S. 275-302.

Granstrand, O. et al. (1993): Internationalisation of R&D: A Survey of Some Recent Research. In: Research Policy 22 (5-6); S. 213-230.

Grupp, H. ; Schmoch U.(1992): Wissenschaftsbindung der Technik. Panorama derinternationalen Entwicklungen und sektorales Tableau für Deutschland. Heidelberg: Physica-Verlag.

Guellec, D.; Van Potteisberghe, B. (2001), The Internationalisation of TechnologyAnalysed with Patent Data. In: Research Policy 30; S. 1253-1266.

Hirschey, R.; Caves, R. (1981): Research and Transfer ofTechnology by Multinational Enterprises. In: Oxford Bulletin of Economics and Statistics 43 (2);S.115-130.

Imai, K.; Baba, Y. (1991): Systemic Innovation and Cross-border Networks. Transcending Markets and Hierarchies to Create a New Techno-economic System.In: OECD (Hrsg.), Technology and Productivity - The Challence for Economic Policy. Paris; S. 389-406.

Jungmittag, A.; Reger, G.; Reiss, T. (2000): Changing Innovation in the Pharmaceutical Industry. Globalization and New Ways of Drug Development. Heidelberg: Springer.

Just, R. (1997): Die Internationalisierung der Unternehmensbereiche Forschung undEntwicklung. Theoretische Erklärungsansätze, Determinanten und Indikatorenunter Berücksichtigung des Wirtschaftsstandortes Deutschland. Frankfurt amMain u. a.: Peter Lang.

Koopmann, G.; Münnich, F. (1999): National and International Developments. In:Technology, Intereconomics 39 (6); S. 267-278.

187

Kuemmerle, W. (1997): Building Effective R&D Capabilites Abroad. In: HarvardBusiness Review; March-April; S. 61-70.

Kuemmerle, W. (1999): Foreign Direct Investment in Industrial Research in thePharmaceutical and Electronics Industry - Results From a Survey of Multinational Firms. In: Research Policy 28; S. 179-193.

Kumar, N. (2001): Determinants of Location of Overseas R&D Activity of Multinational Enterprises: The Case ofUS and Japanese Corporations. In: ResearchPolicy 31; S. 159-174.

Le Bas, c.; Sierra, C. (2002): Location Versus Horne Country Advantages. In:R&D Activities: Some Further Results on Multinationals' Location Strategies,Research Policy 31; S. 589-609.

Leg1er H. u. a. (2000): Innovationsstandort Deutschland. Chancen und Herausforderungen im internationalen Wettbewerb. LandsbergiLech: mi, Verlag ModemeIndustrie.

Legler, H.; Grupp, H.; Gehrke, B.; Schasse, U. (1992): Innovationspotential undHochtechnologie. Wirtschaftswissenschaftliche Beiträge 70. Heidelberg: Physica-Verlag.

Levy, D. (1993): International Production and Sourcing - Trends and Issues. In:STiReviewNr. 13;S. 13-59.

Mathieu, E. (1994): Filiales Etrangeres et Brevets. Beitrag zum OECD-Workshop"Innovation, Patents and Technological Strategies". Paris, 8.-9. Dezember1994.

Meyer-Krahmer, F. et al. (1998): Internationalisation of Research and Technology:Trends, Issues, and Implications for Science and Technology Policies in Europe. Brusselsl Luxembourg (ETAN Working Paper, prepared for the European Commission).

Meyer-Krahmer, F. et al. (1998): Internationalisation of Research and Technology:Trends, Issues and Implications for Science and Technology Policies in Europe. Brusselsl Luxembourg (ETAN Working Paper, prepared for the EuropeanCommission).

Meyer-Krahmer, F.; Reger, G. (1997): Konsequenzen veränderter industriellerFUE-Strategien für die nationale Forschungs- und Technologiepolitik. In: Gerybadze, A.; Meyer-Krahmer, F.; Reger, G., Globales Management von Forschung und Innovation. Stuttgart: Schäffer-Poeschel; S. 196-215.

188

Meyer-Krahmer, F.; Reger, G. (1999): New Perspectives on the Innovation Strategies of Multinational Companies: Lessons for Technology Policy in Europe.In: Research Policy 28; S. 751-776.

Narula, R. (2000): Explaining Inetria in R&D Internationalisation: NorwegianFirms and the Role of Horne Country Effects. MERIT Research Memoranda2000-021.

Niosi, J. (1999): The Internationalisation of Industrial R&D. From TechnologyTransfer to Learning Organisation. In: Research Policy 28; S. 107-117.

Niosi; Godin (1999): Canadian R&D Abroad Management Practices. In: ResearchPolicy 28 (1999); S. 215-230.

NIW et al. (1995): Zur technologischen Leistungsfähigkeit Deutschlands. Berichtan das Bundesministerium für Bildung, Wissenschaft und Technologie.

NIW et al. (1998): Berichterstattung zur technologischen LeistungsfähigkeitDeutschlands 1997. Hannover.

OECD (1998a): Internationalisation ofIndustrial R&D. Patterns and Trends. Paris:OECD.

OECD (1998b): Science Technology Industry Review No. 22. Special Issue on"New Rationale and Approaches in Technology and Innovation Policy". Paris.

OECD (1999a): Managing National Innovation Systems. Paris: OECD.

OECD (1999b): Science, Technology and Industry Scoreboard 1999. BenchmarkingKnowledge-Based Economies. Paris: OECD.

OECD (2000): Science, Technology and Industry Outlook 2000. Paris: OECD.

OECD (2001a): Main Science and Technology Indicators. Paris: OECD.

OECD (2001b): Science, Technology and Industry Scoreboard 2001 - Towards aKnowledge-based Economy. Paris: OECD.

OECD (Hrsg.) (1998a): Globalisation of Industrial R&D: Policy Implications.DSTVSTP/TIP(98)4/REV I.

OECD (Hrsg.) (1998b): Internationalisation of Industrial R&D. Patterns andTrends. Paris: OECD.

189

OECD (Hrsg.) (1999): Measuring Globalisation. The Role of Multinationals In

OECD Economies. Paris: OECD.

Patel, P. (1994): Are Large Firms Internationalising the Generation of Technology:Some New Evidence. Beitrag zum OECD-Workshop "Innovation, Patents andTechnological Strategies". Paris, 8.-9. Dezember 1994.

Patel, P.; Pavitt, K. (2000): National Systems of Innovation Under Strain: The Internationalisation of Corporate R&D. In: Barre, R. et al. (Hrsg.), Productivity,Innovation and Economic Performance. Cambridge: Cambridge UniversityPress, Mimeo.

Patel, P.; Vega, M. (1999): Patterns of Internationalisation of Corporate Technology: Location vs. Horne Country Advantages. In: Research Policy 28 (1999);S.145-155.

Pearce, R. (1999): Decentralised R&D and Strategie Competitiveness: GlobalisedApproaches to Generation and Use of Technology in Multinational Enterprises (MNEs). In: Research Policy 29; S. 157-178.

Pearce, R; Singh, S (1997): Motivation and Organization ofDecentraliced R&D: In:Pearce, R.: Global Competition and Technology: PALGRAVB.

Pearce, R; Singh, S. (1992): Globalizing Research and Development; London:Macmillan.

Reger G.; Beise, M.; Belitz, H (1999): Innovationsstandorte multinationaler Unternehmen. Internationalisierung technologischer Kompetenzen in der Pharmazeutik. Heidelberg: Physica-Verlag.

Reger, G. (1997): Koordinierung und strategisches Management internationalerInnovationsprozesse. Heidelberg: Physica-Verlag.

Riedel N. (1999): Improving Local Conditions for Innovation in the PharmaceuticalIndustry. In: Meyer-Krahmer, F. (Hrsg.), Globalisation of R&D and Technology Markets. Consequences for National Innovation Policies. Heidelberg:Physica-Verlag.

Saggi, K. (2000): Trade, Foreign Direct Investment and International TechnologyTransfer: A Survey. Mimeo.

Schmaul, B. (1995): Organisation und Erfolg internationaler Forschungs- und Entwicklungseinheiten. Wiesbaden: Deutscher Universitäts-Verlag.

190

Schmoch, U. (1999a): Eignen sich Patente als Innovationsindikator? In: Bloch, R.(Hrsg.), Patentschutz und Innovation in Geschichte und Gegenwart. Frankfurtam Main u. a.: Peter Lang; S. 113-126.

Schmoch, U. (1999b): Impact ofInternational Patent Applications Upon Patent Indicators. In: Research Evaluation 8 (2); S. 119-131.

Schmoch, U. (1994): International Patenting Strategies of Multinational Concerns The Example of Telecommunication Manufacturers. Beitrag zum OECDWorkshop "Innovation, Patents and Technological Strategies". Paris, 8.-9.Dezember 1994.

Schmoch, u., Jungmittag, A., Rangnow, R. (2000): Innovationsstandort Schweiz.Studie für das Bundesamt fUr Berufsbildung und Technologie. Karlsruhe:FhG-ISI.

Schmoch, u.; Licht, G.; Reinhard, M. (2000): Wissens- und Technologietransfer inDeutschland. Studie im Auftrag des BMBF. Stuttgart: IRB-Verlag.

Schmoch, U. (2001): Interaktion von akademischer und industrieller Forschung.Unveröffentlichtes Manuskript. Karlsruhe.

Schnell, R. (1997): Nonresponse in Bevölkerungsumfragen. Ausmaß, Entwicklungund Ursachen. Opladen: Leske + Budrich.

Serapio, M.; Dalton, D. (1999): Globalization of Industrial R&D: An Examinationof Foreign Direct Investments in R&D in the United States. Research Policy(28)2-3 ; S. 303-316.

Soete, L. (1993): Die Herausforderung des "Techno-Globalismus": Auf dem Wegzu neuen Spielregeln. In: Meyer-Krahmer, F. (Hrsg.), Innovationsökonomieund Technologiepolitik - Forschungsansätze und politische Konsequenzen.Heidelberg: Physica.

SV-Wissenschaftsstatistik (1999): Datenreport 1999. Forschung und Entwicklung inder Wirtschaft 1997-1999. Essen.

UNCTAD (Hrsg.) (1999): World Investment Report 1999. Foreign Direct Investment and the Challenge ofDevelopment. New York and Geneva: UNCTAD.

UNESCO (1998): World Science Report 1998. New York: United Nations.

191

Vieweg, H.-G. u. a. (2001): Der mittelständische Maschinenbau am StandortDeutschland - Chancen und Risiken im Zeitalter der Globalisierung und"New Economy". Studie im Auftrag des Bundesministeriums für Wirtschaftund Technologie. München.

Von Boehmer, A. (1995): Internationalisierung industrieller Forschung und Entwicklung. Typen, Bestimmungsgründe und Erfolgsbeurteilung. Wiesbaden:DVU.

Von Zedtwitz, M.; Gassmann, O. (2002): Market Versus Technology Drive in R&DInternationalisation: Four Different Patterns of Managing Research and Development. Research Policy 31; S. 569-588.

Welge, K.; Holtbrügge, D. (2000): Wissensmanagement in multinationalen Unternehmen - Ergebnisse einer empirischen Untersuchung. In: zfb 52 (Dezember); S. 762-777.

Zander, I. (1999): How Do You Mean "Global"? An Empirical Investigation ofInnovation Networks in the Multinational Corporation. In: Research Policy28; S. 195-213.

ZEW et al. (2000): Zur technologischen Leistungsfähigkeit Deutschlands. Zusammenfassender Endbericht 1999. Mannheim.

Anhang

Tabellen und Abbildungen

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Tabelle A2:

Technikfeld

203

Wissensbindung: Zahl der Wissenschaftszitate proPatentanrneldung in Prüfberichten des Europäischen Patentamtesfür die Prioritätsjahre 1989 bis 1992.

Index der Wissensbindung

Pharmazie (Haupt- und Nebenklasse) 1,87

Organische Chemie 1,66

Datenverarbeitung 1,26

Audiovisuelle Technik 1,16

Werkstoffe 1,13

Grundstoffchemie 0,99

Obertlächentechnik 0,93

E1ektr. Energie 0,75

Materialverarb., Textil 0,61

Werkzeugmaschinen 0,6

Motoren, Turbinen 0,45

Thermische Prozesse 0,4

Transport und Raumfahrt, Waffen 0,3

Konsumgüter 0,22

Quelle: Schmach 2001, S. 141.

204

Tabelle A3: Patente im fu1and und Ausland sowie Auslandsquoten des Samp1es

der deutschen Unternehmen im Ausland 1990 und 1998 nachTechnikfe1dern156

1990 1998

Inland Ausland Inland Ausland

Audiovisuelle Technik 52 10 16,13 70 5 6,67

Datenverarbeitung 67 4 5,63 264 35 11,71

143 26 139 27 16,27

Medizintechnik 88 45 33,83 101 63 38,41

Lebensmittel 18 2 10,00 18 2 10,00

Oberflächentechnik 132 17 11,40 145 26 15,20

Nahrungsmittelverarb. 9 10,00 15 6 28,57

VVerkzeugmaschinen 112 6 5,08 197 24 10,86

Thermische Prozesse 68 o 0,00 117 13 10,00

Bauwesen 60 2 3,22 102 10 8,93

* Auslandsquote, defmiert als Anteil der ausländischen Patenten an den Patenten gesamt.

Quelle: WO-Patente/EP-Patente; Berechnungen des FHG-ISI.

156 Die hervorgehobenen Linien in dieser Tabelle trennen Technikbereiche voneinander ab, vonoben nach unten: Elektrotechnik, Instrumente, Chemie, Prozesstechnik und Maschinenbau.

Abbildung Al:

205

Spezialisierungsmuster des deutschen Untemehmenssamples imVergleich zum Profil Deutschlands 1990157

Elektr. Energie .-Audio-visuelle Technik -'"

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-100 -80 -60 -40 -20 0 20 40 60 80 100

RPA-Index


157 Die Linien, in dieser und den folgenden GrafIken zur Patentspezialisierung, trennen - soferndie Felder nach Technikbereiche geordnet sind - diese voneinander ab, von oben nach unten:Elektrotechnik, Instrumente, Chemie, Prozesstechnik und Maschinenbau.

Abbildung A2:

206

Spezialisierungsmuster des deutschen Untemehmenssamples imVergleich zum Profil Deutschlands 1998

Elektr. Energie ~Audio-visuelle Technik

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Quelle:

RPA-Index

WO-PatenteIEP-Patente; Berechnungen des FHG-ISI.

Abbildung A3:

207

Differenz derAuslandsquoten der deutschen Konzerne desSampIes zwischen 1998 und 1990 für Technikfelder

Halbleiter

Nahrungsmittelverarb.

Pharmazie

Biotechnologie

Org. Chemie

Therm. Prozesse

Elektr. Energie

Polymere

Datenverarbeitung

Werkzeugmaschinen

Bauwesen

Maschinenelemente

Umwelttechnik

Medizintechnik

Transport und Raumfahrt, Waffen

Messen, Regeln und Nukleartechnik

Verfahrenstechnik

Materialverarb., Textil

Konsumgüter

Oberflächentechnik

Motoren, Turbinen

Werkstoffe

Grundstoffchemie

Optik

Handhabung, Druck

Lebensmittel

Telekommunikation

Audio-visuelle Technik

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Quelle:

Differenz Auslandsquoten 1998 ·1990


Abbildung A4:

208

Auslandsquoten deutscher Konzerne (gesamtes Sample) für dieJahre 1990 und 1998 für Technikfelder, geordnet nachabnehmender Wissensbasierung

Biotechnologie

Pharmazie

Halbleiter

Org. Chemie

Lebensmittel

Datenverarbeitung

Optik


Telekommunikation

Werkstoffe


Grundstoffchemie

Oberflächentechnik

Polymere

Elektr. Energie

Umwelttechnik


Verfahrenstechnik

Werkzeugmaschinen


Motoren, Turbinen

Handhabung, Druck

Therm. Prozesse

Medizintechnik


Maschinenelemente

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Quelle: WO-PatenteIEP-Patente; Berechnungen des FHG-ISI.

Abbildung A5:

209

Spezialisierungsmuster der deutschen Konzerne (Sample) imInland und in den USA sowie Patentprofil USA gesamt, 1990

Elektr. Energie1-

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Bauwesen :IIIliii • Patente USA gesamt

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Quelle:

RPA-Index

WO-Patente/EP-Patente; Berechnungen des FHG-ISI.

Abbildung A6:

210

Spezialisierungsmuster der deutschen Konzerne (Sample) imInland und in den USA sowie Patentprofil USA gesamt, 1998

Elektr. Energie -Audio-visuelJe Technik

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~ • Patente USA gesamt

-100 -80 -60 -40 -20 o 20 40 60 80 100

Quelle:

RPA-Index


Abbildung A7:

211

Patentspezialisierung Deutschland gesamt

Elektr. Energie


Telekommunikation

Datenverarbeitung

Halbleiter

Optik


Medizintechnik

Org. Chemie

Pharmazie (Haupt- und Nebenklasse)

Biotechnologie

Lebensmittel

Werkstoffe

Oberflächentechnik

Polymere

Grundstoffchemie

Verfahrenstechnik


Handhabung, Druck


Umwelttechnik

Werkzeugmaschinen

Motoren, Turbinen

Therm. Prozesse

Maschinenelemente


Konsumgüter

Bauwesen

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Quelle:

RPA-Index


Abbildung A8:

212

Patentspezialisierung USA gesamt

Elektr. Energie


Telekommunikation

Datenverarbeitung

Halbleiter

Optik


Medizintechnik

Org. Chemie


Biotechnologie

Lebensmittel

Werkstoffe

Oberflächentechnik

Polymere

Grundstoffchemie

Verfahrenstechnik


Handhabung, Druck


Umwelttechnik

Werkzeugmaschinen

Motoren, Turbinen

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RPA-Index


Abbildung A9:

213

Patentspezialisierung Japan gesamt

Elektr. Energie


Telekommunikation

Datenverarbeitung

Halbleiter

Optik


Medizintechnik

Org. Chemie


Biotechnologie

Lebensmittel

Werkstoffe

Oberflächentechnik

Polymere

Grundstoffchemie

Verfahrenstechnik


Handhabung, Druck


Umwelttechnik

Werkzeugmaschinen

Motoren, Turbinen

Therm. Prozesse

Maschinenelemente


Konsumgüter

Bauwesen

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Quelle:

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RPA-Index


214

Abbildung AlO: Patentspezialisierung Schweiz gesamt

Elektr. Energie


Telekommunikation

Datenverarbeitung

Halbleiter

Optik


Medizintechnik

Org. Chemie


Biotechnologie

Lebensmittel

Werkstoffe

Oberflächentechnik

Polymere

Grundstoffchemie

Verfahrenstechnik


Handhabung, Druck


Umwelttechnik

Werkzeugmaschinen

Motoren, Turbinen

Therm. Prozesse

Maschinenelemente


Konsumgüter

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Quelle:

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-100 -80 -60 -40 -20 0 20 40 60 80 100

RPA-Index


Abbildung All:

215

Patentspezialisierung Frankreich gesamt

Elektr. Energie


Telekommunikation

Datenverarbeitung

Halbleiter

Optik


Medizintechnik

Org. Chemie


Biotechnologie

Lebensmittel

Werkstoffe

Oberflächentechnik

Polymere

Grundstoffchemie

Verfahrenstechnik


Handhabung, Druck


Umwelttechnik

Werkzeugmaschinen

Motoren, Turbinen

Therm. Prozesse

Maschinenelemente


Konsumgüter

Bauwesen

Quelle:

-100 -80 -60 -40 -20 0 20 40 60 80 100

RPA-Index


216

Abbildung A12: Patentspezialisierung Vereinigtes Königreich gesamt

Elektr. Energie


Telekommunikation

Datenverarbeitung

Halbleiter

Optik


Medizintechnik

Org. Chemie


Biotechnologie

Lebensmittel

Werkstoffe

Oberflächentechnik

Polymere

Grundstoffchemie

Verfahrenstechnik


Handhabung, Druck


Umwelttechnik

Werkzeugmaschinen

Motoren, Turbinen

Therm. Prozesse

Maschinenelemente


Konsumgüter

Bauwesen

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RPA-Index


Abbildung AU:

217

Patentspezialisierung Italien gesamt

Elektr. Energie


Telekonununikation

Datenverarbeitung

Halbleiter

Optik


Medizintechnik

Org. Chemie

Phannazie (Haupt- und Nebenklasse)

Biotechnologie

Lebensmittel

Werkstoffe

Oberflächentechnik

Polymere

Grundstoffchemie

Verfahrenstechnik


Handhabung, Druck


Umwelttechnik

Werkzeugmaschinen

Motoren, Turbinen

Therm. Prozesse

Maschinenelemente


Konsumgüter

Bauwesen

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RPA-Index

Quelle: WO-PatenteIEP-Patente; Berechnungen des FHG-ISI

218

Abbildung A14: Patentspezialisierung Niederlande gesamt

Elektr. Energie


Telekommunikation

Datenverarbeitung

Halbleiter

Optik


Medizintechnik

Org. Chemie

Phannazie (Haupt- und Nebenklasse)

Biotechnologie

Lebensmittel

Werkstoffe

Oberflächentechnik

Polymere

Grundstoffchemie

Verfahrenstechnik


Handhabung, Druck


Umwelttechnik

Werkzeugmaschinen

Motoren, Turbinen

Therm. Prozesse

Maschinenelemente


Konsumgüter

Bauwesen

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RPA-Index


219

Abbildung AIS: Patentspezialisierung Schweden gesamt

Elektr. Energie


Telekommunikation

Datenverarbeitung

Halbleiter

Optik


Medizintechnik

Org. Chemie


Biotechnologie

Lebensmittel

Werkstoffe

Oberflächentechnik

Polymere

Grundstoffchemie

Verfahrenstechnik


Handhabung, Druck


Umwelttechnik

Werkzeugmaschinen

Motoren, Turbinen

Therm. Prozesse

Maschinenelemente


Konsumgüter

Bauwesen

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RPA-Index

Quelle; WO-PatenteIEP-Patente; Berechnungen des FHG-ISI.

Tabelle A4:

220

Konkordanz der Wissenschaftsfelder zur Publikationsrechercheund der Technikfelder zur Patentrecherche

PubHkationsanalyse

Wissenschaftsgebiet Wissenschaftsfeld(Basis SCI)

Patentanalyse

Technikfeld (Basis IPC) Technikbereich

Instrumente Optik

Meß-,RegeltechnikNukleartechnik

Medizintechnik

Optik

Messen, Regeln, Nukleartechnik

Medizintechnik

Instrumente

Prozesstechnik

Chemie! Pharmazie

Prozesstechnik

Verfahrenstechnik

Materialforschung,Oberflächentechnik

Umwelttechnik

Verfahrenstechnik

Werkstoffe,Oberflächentechnik

Umwelttechnik

Prozesstechnik

Physik Physik Kein Äquivalerit

Sonstige Biologie Kein Äquivalent

Ökologie, Klima Kein Äquivalent

Landwirtschaft Kein Aquivalent

Mathematik Kein Äquivalent

Geowissenschaften Kein Äquivalent

Sonstiges Kein Äquivalent

Tabelle A5:

221

Publikationsprofile Deutschlands und der Zielländer 1998/99(RLA-Indizes)

Wissensfeld

Elektrotechnik

Telekommunikation

Datenverarbeitung

Optik

Messen! Regeln, Nukleartechnik

Medizintechnik

Organische Chemie

Polymere

Pharmazie

Biotechnologie

Lebensmittel

Grundstoffchemie

Verfahrenstechnik

Materialforschung

Umwelttechnik

Maschinenbau

Thermische Prozesse

Bauwesen

Physik

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Ökologie, Klima

Mathematik

Geowissenschaften

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Tabelle A7:

226

Die Patentanmeldungen der ausländischen Unternehmen desSamples in Deutschlandnach Technikfeldern und der jeweiligeAnteil an den Gesamtanmeldungen der Konzerne weltweit im Jahr1998.158

Audiovisuelle Technik ° 684 0,00

Datenverarbeitung 685 0,15

Optik 8 335 2,39

Medizintechnik 5 314 1,59

Lebensmittel ° 141 0,01

Oberflächentechnik 3 132 2,27

Grundstoffchemie 29 508 5,71

Therm. Prozesse 21 68 30,88

Bauwesen 12 57 21,05


158 Die hervorgehobenen Linien in dieser Tabelle trerihen Technikbereiche voneinander ab, vonoben nach unten: Elektrotechnik, Instrumente, Chemie, Prozesstechnik und Maschinenbau.

Abbildung A16:

227

Patentspezialisierung ausländischer Konzerne weltweit vs.Töchter in DeutscWand, 1998.

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Quelle:

RPA"Index..


Abbildung A17:

228

Patentspezialisierung ausländischer Töchter in Deutschland vs.Deutschland gesamt, 1998

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Quelle:

RPA - Index


Abbildung A18:

229

Patentspezialisierung ausländische Konzerne weltweit vs.Töchter in D. vs. Deutschland gesamt, 1998

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Quelle:

RPA- Index

WO-Patente/EP-Patente; Berechnungen des fllG-ISI.

Abbildung A19:

230

Spezialisierungsmuster der Alleinpublikationen der Töchter inDeutschland vs. (Ko-)Publikationen der ausländischen Töchterin Deutschland vs. Publikationsprofil Deutschland

Elektrotechnik

Telekommunikation

Datenverarbeitung

Optik


Medizintechnik

Organische Chemie

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Biotechnologie

Lebensmittel

Grundstoffchemie

Verfahrenstechnik

Materialforschung

Umwelttechnik

Maschinenbau

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Physik

Medizin

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Mathematik

Geowissenschaften

Sonstiges

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• Publikationen Deutschland

•...-100 -80 -60 -40 -20 o 20 40 60 80 100

Quelle:

RLA-Index

SCI-Datenbank, Berechnungen des FHG-ISI.

Abbildung A20:

231

Spezialisierungsmuster der (Ko-)Publikationen derausländischen Töchter in Deutschland VS. Ko-Publikationen derKonzernmütter in Deutschland vs. PublikationsprofilDeutschland

Elektrotechnik

Telekommunikation

Datenverarbeitung

Optik


Medizintechnik

Organische Chemie

Polymere

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Bioteclmologie

Lebensmittel

Grundstoffehernie

Verfahrenstechnik

Matetialforschung

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Medizin

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Quelle:

RLA-Index

SeI-Datenbank, Berechnungen des FHG-ISI.

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233

Abbildung A21: Spezialisierungsmuster der deutschen (Ko-)Publikationen derTöchter und Konzernmütter vs. Spezialisierung der Publikationen der Konzernmütter weltweit, Wissenschaftsgebiete

Elektronik/ETechnik

Instrumente

ChemielPharmazie

Prozesstechnik

Maschinenbau(ohne

Konsumgüter)

Physik

Medizin

Sonstiges (inkl.Konsumgüter)

-100 -80 -60 -40 -20 20 40 60 80 100

RLA-Index

Quelle: SeI-Datenbank, Berechnungen des FHG-ISI.

Abbildung A22:

234

Spezialisierungsmuster der deutschen(Ko-)Publikationen derTöchter und Konzernmütter vs. Spezialisierung der Publikationen der Konzernmütter weltweit

Elektrotechnik

Telekommunikation

Datenverarbeitung

Optik


Medizintechnik

Organische Chemie

Polymere

Pharmazie

Biotechnologie

Lebensmittel

Grundstoffchemie

Verfahrenstechnik

Materialforschung

Umwelttechnik

Maschinenbau

Thennische Prozesse

Bauwesen

Physik

Medizin

Biologie

Ökologie, Klima

Mathematik

Geowissenschaften

Sonstiges

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o Publikationen Mütterweltweit

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-100 -80 -60 -40 -20 20 40 60 80 100

Quelle:

RLA-Index

SCI-Datenbank, Berechnungen des FHG-ISI.

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244

Tabelle All: Indikatoren der Auslandsforschung nach Unternehrnensgröße 1998(gewichtete Indikatoren)

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Patentintensität

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Auslandspatentintensität

" Zur Definition der Indikatoren siehe Text.

Quelle: Eigene Berechnungen.

Tabelle A12: Indikatoren der Auslandsforschung nach Sektoren 1998(gewichtete Indikatoren)

Indikator" Insgesamt Fahrzeugbau Elektronikb Chemie Maschinenbau

Forschungsintensität 5,3 5,0 7,0 5,9 2,5

Patentneigung 33,8 13,8 54,5 38,3 54,1

Patentintensität 1,8 0,7 3,8 2,2 1,4

Auslandsquote 14,5 5,6 13,5 20,2 12,2

Auslandspatentintensität 0,25 0,04 0,51 0,46 0,10

" Zur Definition der Indikatoren siehe Kapitel 3.2.3.b Der Sektor "Elektronik" umfasst auch E-Technik, Feinmechanik und Optik.

Quelle: Eigene Berechnungen.

245

Erläuterung der Datenbasis und Berechnungsmethoden fürtechnologische Spezialisierungen

Basis für die Patentzahlen sind die Anmeldungen am Europäischen Patentamt(EPA) sowie die Zahlen zu Anmeldungen im PCT-Verfahren (Patent CooperationTreaty). Damit sind die zentralen internationalen Verfahren abgedeckt, die es prinzipiell ermöglichen, angemeldete Patente auf mehrere Länder zu überführen. Inbeiden Verfahren muss zur endgültigen Sicherung des Patentes eine Überführung innationale Patentverfahren kommen. Eine Erstanmeldung am Europäischen Patentamt ermöglicht nach der Erteilung eine spätere Überführung in nationale Patenteder Mitgliedsländer des Europäischen Patentabkommens; die Frist zur Erstveröffentlichung der Anmeldung beträgt 18 Monate. Beim teureren PCT-Verfahren isteine Überführung in über 100 Länder weltweit bzw. in das europäische Verfahrenmöglich. Eine Entscheidung, in welche Länder man überführen möchte, muss hiererst nach 30 Monaten gefällt werden. Um sowohl die Patentanmeldungen zu erfassen, die auf den europäischen Raum beschränkt sind, als auch diejenigen, die potenziell für alle Regionen der Welt in Frage kommen, wurde fur beide Jahre 1990 und1998 die Summe der Anmeldezahlen nach beiden Verfahren gebildet. Damit ist dieinternationale Patentaktivität der Unternehmen breit abgedeckt. Da bei der Zählungder europäischen Patente nur solche Patente aufgenommen wurden, die nicht vomPCT-Verfahren überfuhrt wurden (sogenannte EPO-Direktanmeldungen), ist gewährleistet, dass es zu keinen Doppelzählungen kommt. 159

Für das Patentprofil einer Gruppe von Unternehmen (z. B. das SampIe insgesamtoder einer Gruppe von Unternehmen eines Sektors) gibt der Index RPAijk die Spezialisierung für die definierte Gruppe von Unternehmen k im Technikfeld i mit demLänderbezugj (in Deutschland, im Ausland etc.) an. Er berechnet sich wie folgt:

RPAijk = 100 tanh In [(Patijk I Li Patijk) I (Lj Patij I Lij Patij)]

Darin ist1 = Technikfeld,J = Land (bzw. Ländergruppe zur Bestimmung von "Auslandsprofilen" der deut

schen Unternehmen),k = definierte Gruppe von Unternehmen (gesamtes Sampie oder Sektorgruppe).

Der Zähler setzt also jeweils die Anmeldungen der Gruppe von Unternehmen ineinem bestimmten Land (bzw. in bestimmten Ländern) in einem Technikfeld insVerhältnis zu den Gesamtanmeldungen dieser Gruppe von Unternehmen im selbenLand (bzw. den selben Ländern). Der Bezug im Nenner besteht aus dem Verhältnisder Summe aller Patente in den betrachteten Datenbanken EPAT und PCTPAT imjeweiligen Technikfeld über alle Länder (weltweit) und der Summe aller Patente

159 Für eine ausflihrliche Analyse der Bedeutung von peT-Verfahren siehe Schmach 1999b.

246

über alle Technikfelder über alle Länder (weltweit). Er ist für alle Spezialisierungsberechnungen dieser Studie immer der Selbe.

Für die Spezialisierungsprofile von Ländern insgesamt gilt analog:

RPAij = 100 tanh In [(Patij / Li Patij) / (Li Patij / Lij Patij)]

miti = Technikfeld,J = Land.

Der Zähler besteht hier also aus dem Verhältnis der Anmeldungen eines Landes(einer Ländergruppe) in einem Technikfeld zu den gesamten Anmeldungen diesesLandes (der Ländergruppe) über alle Technikfelder.

Die Einführung des Logarithmus sorgt für einen symmetrischen Wertebereich umden neutralen Punkt 0, der Tangens Hyperbolicus führt zu einer Begrenzung auf denWertebereich ± 1. Der Faktor 100 wird aus Gründen einer besseren graphischen Illustration eingeführt. Da der Index im Nenner eine internationale Referenzzahlaufweist, ist er eine gute Maßzahl für die internationale Wettbewerbsfahigkeit. Zuwächse von Absolutzahlen in einzelnen Feldern wirken sich nur dann als verbesserte Leistungsfahigkeit aus, wenn sie stärker sind als die relativen Zuwächse derinternationalen Referenz.

247

Methodische Ergänzung für die Publikationsprofile derdeutschen Unternehmen im Ausland

Die Profile der Publikationen, und damit der Schwerpunkte grundlagenorientierterForschungsarbeiten, ermitteln sich analog der im vorangegangenen Teilkapitel dargestellten RPA, insbesondere entsprechen sich auch die mathematischen Transformationen.

Für die grundlagenorientierte Spezialisierung emes Sampies von UnternehmenRLAijk gilt:

RLA;jk = 100 tanh In [(Publ;jk / Li Publijk) / (Lj Publij / Lij Publij)]mitI = Wissenschaftsfeld,J = Land (bzw. Ländergruppe zur Bestimmung von "Auslandsprofilen" der deut

schen Unternehmen),k = definierte Gruppe von Unternehmen (gesamtes Sampie oder Sektorgruppe).

Für die Spezialisierungsprofile von Ländern gilt analog:

RLAij = 100 tanh In [(Publij / Li Pubi;) / (Lj Publ ij / Lij Publij)]mit:I = Wissenschaftsfeld,J = Land.

Der Bezug im Nenner ist in allen Berechnungen also immer derselbe, er besteht ausdem Verhältnis der Summe aller Publikationen im SCI im jeweiligen Wissenschaftsfeld über alle Länder (weltweit) und der Summe aller Publikationen über alleWissenschaftsfelder über alle Länder (weltweit).

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Literaturverzeichnis - Springer978-3-642-57402...trag zum OECD-Workshop "Innovation, Patents and...

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