Bragg-Brentano: 集中光学系が高い信頼性と精度を有する回折データを生み出します

粉末X線回折 (X-Ray Powder Diffraction; XRPD)

Braggの法則

nλ = 2di sinθi

• 波長λは使用するX線管球に より一義的に決定されます

• 回折ピーク位置2θiは格子面間隔diにより決定されます

• 回折ピーク強度は装置光学系および結晶格子内原子配列によって決定されます

di A B

C

θ2θ

i

Bragg-Brentanoは以下の用途に最適です • 結晶相定性分析・定量分析

• 結晶子サイズ・結晶子歪み解析 • 結晶構造の決定・精密化

Bragg-Brentano型X線回折計の特徴

• セラミックス封入型管球から ラインフォーカスX線を照射

• 0次元または1次元検出器を 用いて回折角2θに対するX線強 度を取得

• X線源–試料間距離は 試料–検出器間距離と均等

Bragg-Brentano光学系 • 優れた角度分解能と短時間での測定を両立

• 試料表面を平らに調製することが肝要

2θ

試料

ソラー スリット 散乱防止

スリット

ソラー スリット

Kβフィルター

発散スリット

1次元検出器

0次元検出器ソラー スリット

散乱防止スリット

受光スリット

試料

ソラー スリット

Kβフィルター

発散スリット

2θ

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C-P

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