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Concurrent test
NOVNOV, 2009
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ContentsContents1 Concept
3 Application instance
2 Method
4 Conclusion
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ContentsContents1 Concept
3 Application instance
2 Method
4 Conclusion
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What?What?
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- 현재의 test 방법 (순차적으로 test 진행)
Sequential timeSequential time
Concurrent time Reduction time
- Concurrent test 방법Concurrent test 방법
(병렬 test 진행)
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Why?Why?
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Test Cost 의 감소
- Device 의 집적화
Memory, RF, Analog IP 의 집적화에 따른 test time 의 증가
- I/O pin 수의 증가
Multi Para test 의 한계Multi Para test 의 한계
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Needs?Needs?
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1) Device
* IP core isolation (필수 전제 사항)
IP Core 들에 대한 독립적인 접근, 제어 가능
( I/O pin Power 분리)
2) Test equipment
( I/O pin, Power 분리)
-Multi time domain / Software/ Debugging tool …etc 지원
3) Fixture tool
- Board 제작 시 Concurrent 적용 항목별 별도 slot 구성
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WarningWarning
1) Device
IP core isolation* IP core isolation
Chip 의 overhead 가 커져 chip die /Package size& ball 수 증가
2) Tester equip.
고가의 Tester 장비 사용고가의 Tester 장비 사용
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ContentsContents1 Concept
3 Application instance
2 Method
4 Conclusion
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How?How?
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IP1 IP2 IP 3IP1 IP2 IP 3
Concurrent ideal time
TIME 증가분TIME 증가분
Test 순서의 중요성
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Example!Example!
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Example <Function + Function> <Verigy 93000>
M l i Ti i 을 동시에 진
Multi function 수행
Multi Timing setup을 동시에 진행함.
Multi function 수행
Fail 시 처리 routine수행
:상기의 multi function 이란? function + function 동시에 test 가 이뤄져서 이에 대한/f il 정보를 가지고 bi 51 bi 52 인지 f il 을 h k
Fail 시 처리 routine수행
pass/fail 정보를 가지고 bin51, bin52 인지 fail 을 check.
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ContentsContents1 Concept
3 Application instance
2 Method
4 Conclusion
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3.1 Concurrent test device 선정
SOC Onechip device
LogicLogic MemoryMemory Wafer levelWafer level
ADCADC DACDAC
RFRF etcetcRFRFPackage levelPackage level
..etc..etc
<現 엠텍비젼 제품>
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3 Aplication instance3 Aplication instance
3 2 Concurrent test time 감소 효과 (IDEAL)3.2 Concurrent test time 감소 효과 (IDEAL)
Device1 device2
Cont Func1 DC1 Func2 DC2
2% 45% 2% 2% 47%
Sequential 100%Analog
2%
Concurrent
VS
A l 47% Reduction!!- 효과의 최대화2%
Cont
Concurrent
53%
Func1Analog
DC1
DC2
47% Reduction!!
1. Function 갯수가 비슷한 제품
2 이 비슷한 제품Func2
2%
Test finish
47% 2. test time 이 비슷한 제품2%
Test finish
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3 Aplication instance3 Aplication instance
3 2 Concurrent test time 감소 효과 [ACTUAL]3.2 Concurrent test time 감소 효과 [ACTUAL]
1 72%Device1 device2
Cont Func1 DC1 Func2 DC2
2.32% 74.47% 2.39%
1.72%
17.23%
Sequential 100%Analog
1.86%
Concurrent
VS76.86%
18 43% Reduction!!1.72%Analog
Cont
DC2
Concurrent
81.57%Func2
Func1 DC1
2.39%
18.43% Reduction!!Analog
2.32%
Test finish
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ContentsContents1 Concept
3 Application instance
2 Method
4 Conclusion
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Test cost 감소가 목표
1) Concurrent test를 고려한 design
2) Yield , Net die등 원가적인 측면이 고려된 design
1) Concurrent test를 고려한 design
2) Yield , Net die등 원가적인 측면이 고려된 design
3) Function 개수와 test time의 차이가 최소화 될 때 효과가 극대화3) 개수와 의 차이가 최 화 될 때 과가 극대화
4) Device 혹은 IP간 Test item의 최선의 pair 구성을 위해Device 혹은 IP의 개별 test 시 Test time 의 효과적인 분석
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Concurrent Test
At-speed, para test 의 상황에서
Concurrent Test
At speed, para test 의 상황에서
최대 50%까지 Test Time 감축이 가능한최대 50%까지 Test Time 감축이 가능한,
현재의 한계를 극복한 획기적인 Test현재의 한계를 극복한 획기적인 Test
방법이다.
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